Таблица sem за изследвания на материали

Modulesci PE-100 е компактен електронен микроскоп за сканиране на плоча, предназначен за лаборатории за изследване на материали. Разполагайки с източник на електрони от волфрамови нишки, производителност на изображения с висока разделителна способност и моторизирана 5-осна фаза, системата позволява бърз и точен анализ на проби за широк спектър от приложения за наука за материали.

Полупроводников инспекционен микроскоп

DMS-1000 полупроводников инспекционен микроскоп е предназначен за високопрецизни полупроводникови и вафли за инспекция. С ултра-дълбоки 3d цифрови изображения и наблюдение с висока разделителна способност, той позволява точен анализ на чипове, вафли и полупроводникови компоненти в индустриална и лабораторна среда.

Ултра-дълбочина 3d цифров микроскоп-увеличение 20

Магнетрон йон разпрашване покритие инструмент

Ултра-дълбочина 3d цифров микроскоп

Ултра-дълбочинният 3d цифров микроскоп е интегрирана платформа за цифрови изображения и измервания, която поддържа наблюдение и прецизно измерване от 2d до 3d. Той е предназначен за професионални приложения като изследвания, материали, полупроводници, 3c електроника, металография и науки за живота.

Аргонови йонни полиране 697 (ilion ii)