SEM per a investigar materials

El ModuleSci PE-100 és un microscopi d'electron de l'escaneig de taules compactes dissenyat per a laboratoris d'investigació dels materials. Amb una font de l'electron de filament de tungsten, el rendiment d'imatge d'alt resolució, i un escena motoritzat 5 eix, el sistema habilita anàlisi ràpid i exacta de mostres per a una ampla de les aplicacions ciències de materials.

Microscopi d' inspecció semiiconductors

El microscopi d'inspecció Semiconductor DMS-1000 està dissenyat per a l'exconductor semiconductor d'alt precisió i aplicacions d'inspecció wafer. Amb imatge digital 3D d’ultrafons i observació en alta resolució, permet un anàlisi precís de xips, plaquetes i components semiconductors en entorns industrials i de laboratori.

Microscopi digital d' ultra- profunditat 3D - Zoom 20Name

Instrument de llic de l'amont de l' Magnetron Ion

Microscopi digital d' ultra- profunditat 3D

El microscopi digital de l' Ultra- profunditat 3D és una plataforma d'imatge i mesura digital integrada que suporta la mesura d'observació i precisió des de 2D a 3 D. Està dissenyat per a aplicacions professionals com ara la recerca, els materials, els semiconductors, l’electrònica 3C, la metal·lografia i les ciències de la vida.

Un ion d' Argon polit 697 (Ilion II)