• NAVIGATIONx
  • FORSIDE
  • PRODUKTER
  • NYHEDER
  • OM OS
  • KONTAKT
  • I HELE VERDEN

contact@modulesci.com +82 10 6880 6683

da switch language

EN
da
  • FORSIDE
  • PRODUKTER
  • NYHEDER
  • OM OS
  • KONTAKT
  • KONTAKT
  • OM OS
  • NYHEDER
  • PRODUKTER
  • FORSIDE

 contact@modulesci.com
+821065736888
+821068806683

 821068806683
  • NYHEDER
  • <
  • FORSIDE
  • FORSIDE
  • >
  • NYHEDER

Meddelelse om nye aktieudstedelser

Se mere2026-06-23

ModuleSci deltager i SPP 2026, fremviser SEM-løsninger til materialevidenskab og mikroanalyse

Se mere2026-06-23

Afsløring af verden af Nanoscale Karakterisering udstyr: Væsentlige værktøjer til præcisionsanalyse

I det stadigt udviklende landskab af videnskab og teknologi, evnen til at analysere materialer på nanoskalaen er blevet mere og mere afgørende. Nanoscale karakteriseringsudstyr spiller en afgørende rolle på dette område, at give forskere og erhvervsfagfolk mulighed for at udforske og forstå materialer i størrelser, der typisk spænder fra 1 til 100 nanometer. Dette præcisionsniveau er vit.

Se mere2026-06-22

Afsløring af betydningen af mikrostrukturinspektion udstyr i moderne videnskab.

Afsløring af betydningen af mikrostrukturinspektionsudstyr i moderne videnskab Indholdsfortegnelse 1. Introduktion til mikrostrukturinspektion E Forståelse af mikrostrukturer: Hvad de er og hvorfor de betyder 3. Typer af mikrostruktur Inspektion udstyr 3.1 Optiske mikroskoper 3.2 Elektronmikroskoper 3.3 S Kanningssond

Se mere2026-06-21

Udforskningskraften af Tabletop Scanning elektronmikroskoper

Tabletop scanning elektronmikroskoper (TSEM) repræsenterer en bemærkelsesværdig fremskridt inden for mikroskopteknologi, tilbyder en kompakt og brugervenlig løsning til billeddannelse med høj opløsning. I modsætning til traditionelle scanning elektronmikroskoper, som kan være store og komplekse, TSEM'er er udformet til at være mere tilgængelige og fungere i mindre målestok, hvilket gør dem ideelle til uddannelsesinstitutioner, små arbejdere.

Se mere2026-06-20

Låsning af fremtiden: Kompakt Scanning elektronmikroskoper Forklaret

Låsning af fremtiden: Kompakt Scanning elektronmikroskoper Forklaret indholdsfortegnelse 1. Teknologien bag CSEM'er 2.1 Elektronstråle og billedeproces 2.2 Nøglekomponenter i Compact Scanning Elektron Mikroskop 3. Fordele ved at bruge Compact Scanning elektronmikroskoper 3.1 Forbedret portabilitet og Spac

Se mere2026-06-19

CONTACT

telephone

+82 10 6880 6683

skype


whatsapp


telephone

+82 10 6880 6683

fax


email

contact@modulesci.com

Navigation
  • FORSIDE
  • PRODUKTER
  • NYHEDER
  • OM OS
  • KONTAKT
  • I HELE VERDEN
Message
Success!
Error!
Indsend