Tabletop SEM til materialeforskning

ModuleSci PE-100 er et kompakt bordplads scanning elektron mikroskop designet til materialeforskningslaboratorier. Med en wolfram filament elektron kilde, høj opløsning billede ydeevne, og en motoriseret 5-akse fase, systemet muliggør hurtig og præcis analyse af en bred vifte af materialevidenskabelige applikationer.

Halvleder Inspektion Mikroskop

DMS-1000 Semiconductor Inspection Microscope er designet til højpræcision halvleder- og wafer inspektion applikationer. Med ultra-dybde 3D digital billeddannelse og høj opløsning observation, det muliggør præcis analyse af chips, wafers, og halvlederkomponenter i industri- og laboratoriemiljøer.

Ultra dybde 3D Digital mikroskop - Zoom 20.

Magnetron Ion Sputtering Coating Instrumentet

Ultra dybde 3D Digital mikroskop

Ultra-dybde 3D Digital Microscope er en integreret digital billed- og målingplatform, der understøtter observation og præcision måling fra 2D til 3D D. Den er designet til professionelle applikationer såsom forskning, materialer, halvledere, 3C-elektronik, metalografisk analyse og biologiske videnskaber.

Argon-ion polering 697 (Ilion II)