SEM de table pour la recherche sur les matériaux

Le PE-100 de ModuleSci est un microscope électronique de table compact de balayage conçu pour des laboratoires de recherche de matériaux. Comportant une source d'électrons de filament de tungstène, la représentation à haute résolution de représentation, et un étage motorisé de 5 axes, le système permet l'analyse rapide et précise d'échantillon pour un large éventail d'applications de science des matériaux.

Microscope d'inspection de semi-conducteur

Le microscope DMS-1000 d'inspection de semi-conducteur est conçu pour des applications à haute précision d'inspection de semi-conducteur et de gaufrette. Doté d'une imagerie numérique 3D ultra-profonde et d'une observation haute résolution, il permet une analyse précise des puces, des plaquettes et des composants semi-conducteurs dans les environnements industriels et de laboratoire.

Microscope numérique 3D ultra profond-Zoom 20

Instrument de revêtement de pulvérisation d'ion de magnétron

Microscope numérique 3D ultra-profond

Le microscope numérique 3D ultra-profond est une plate-forme d'imagerie et de mesure numérique intégrée qui prend en charge l'observation et la mesure de précision de la 2D à la 3D. Il est conçu pour des applications professionnelles telles que la recherche, les matériaux, l’électronique des semi‑conducteurs, l’industrie 3C, la métallographie et les sciences de la vie.

Polissage ionique d'argon 697 (Ilion II)