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SEM da tavolo per la ricerca sui materiali

Il PE-100 ModuleSci è un microscopio elettronico a scansione da tavolo compatto progettato per i laboratori di ricerca sui materiali. Dotato di una sorgente elettronica a filamento di tungsteno, prestazioni di imaging ad alta risoluzione e uno stadio motorizzato a 5 assi, il sistema consente un'analisi dei campioni rapida e accurata per un'ampia gamma di applicazioni della scienza dei materiali.

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Microscopio di ispezione a semiconduttore

Il microscopio di ispezione a semiconduttore DMS-1000 è progettato per applicazioni di ispezione di alta precisione a semiconduttore e wafer. Dotato di imaging digitale 3D ultra-approfondito e osservazione ad alta risoluzione, consente un'analisi accurata di chip, wafer e componenti semiconduttori in ambienti industriali e di laboratorio.

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Microscopio digitale 3D ultra-profondità-Zoom 20

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Strumento di rivestimento Sputtering a ioni di magnetron

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Microscopio digitale 3D ultra-profondo

Il microscopio digitale 3D a profondità ultra è una piattaforma di misurazione e imaging digitale integrata che supporta l'osservazione e la misurazione di precisione dal 2D al 3D. È progettato per applicazioni professionali come ricerca, materiali, semiconduttori, elettronica 3C, metallografia e scienze della vita.

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Lucidatura agli ioni di argon 697 (Ilion II)

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