SEM、FE-SEM、卓上スキャン電子顕微鏡-ModuleSci

ModuleSci PE-100は、材料研究所向けに設計されたコンパクトな卓上走査型電子顕微鏡です。タングステンフィラメント電子源、高解像度イメージング性能、および電動5軸ステージを備えたこのシステムは、幅広い材料科学アプリケーション向けの高速かつ正確なサンプル分析を可能にします。

DMS-1000半導体検査顕微鏡は、高精度の半導体およびウェーハ検査アプリケーション向けに設計されています。超深度3Dデジタルイメージングと高解像度観測を備え、産業および実験室環境でのチップ、ウェーハ、および半導体コンポーネントの正確な分析を可能にします。

超深度3Dデジタル顕微鏡は、2Dから3Dまでの観測と精密測定をサポートする統合されたデジタルイメージングおよび測定プラットフォームです。本製品は、研究、材料、半導体、3C電子機器、金属組織学、ライフサイエンスなどの専門的な用途に向けた設計となっています。