IWWERT ONS

ModuleSci het am 2017 et bestätiert, mat der Häus- Opléisung- Elektron-mikroskopen bei der Feld Emissions-electron Technologie erwacht mat d'Aöperwung vun der Korea Research Institute of Standarden and Science (KRISS). Mir stellt bei der Standard Tungsten Filamente SEM mat een Resolution vun ouen 100,000x, an 'FE-SEM' a Héich-Fermen op ee Pritzpunt betallich genaacher ass d'Aner Banden an der Marken. Ermaachen op äusgen Experient an Electron an licht optik, Mir hut och ee korrellative licht an electron- Mikroskopoen, déi benotzer bei electron a optical Biller verzelt ly. Dës Technik liedet d'Benotzer déi unioche Eigesieden vun optical an Fluorescent- Mikroskopie benotzen Microscopy

méi gewuer ginn

NEIEGKEETEN

Kenn vun der Nei Verdeler

2026-06-23 méi gewuer ginn

ModuleSci Participtt am SPP 2026, SEM Solutions fir Materialen Science an Microanalyse

2026-06-23 méi gewuer ginn

De Welt vum Nanoscale-Karakterizationakröwungeen: Essente Adweider fir Precisioun Analyse

An 'Mieg-Entschuen vun Science a Technologie, D'Meetchmatéit, mat den nanoscale an' Analysen, ass äusch äusgen. D’Ausrëschtung fir d’Charakteriséierung am Nanobereich spillt an dësem Beräich eng entscheedend Roll a bitt Fuerscherinnen a Fuerscher souwéi Fachleit aus der Industrie d’Mëttel, Materialien a Gréissten ze ënnersichen, déi normalerweis tëschent 1 an 100 Nanometer leien. Dës Nivo vun Precistéis ass vit (Vi)

2026-06-22 méi gewuer ginn

D' Importansicht vun Inspectioun vum Microstructure-Akquiemen an modësen-Wësenkeien

D' Importansicht vun de Inspectioun vum Microstrukture, am Modern Science- Tabl vun Intenten. Versten vum Microstrukturen: Wäie sinne an 'Sës matz 3. Type vun Microstrukture Inspectioun 3.1 Optical Microskope 3.2 Electron Microskope 3.3 S Probe-Mick

2026-06-21 méi gewuer ginn

Electron Microskopen

Tabletop-Sennen-mikroskopen (TSEMs) raplétt eng äusfache avvanced am mikroskopy-Teknologie, e Compaktt an Benotzer-Feidel Opléisung fir "Héckt-Opléisung". Oxddränge de tradisionele electron-mikroskopen, déi grë en kompleks sinn, TSEM-en huet opsetzt fir méi Accessibel an op eng lütter scale ginn, déi d'ideal vum Edudeninstitulen, liede Laatt

2026-06-20 méi gewuer ginn

D' Fuuthore opséckeen: Compaktt- Elektroctron Microskopen

D' Fuorthn opséckeen: Compaktt- Skènen- Elektroscow- Microskopen CSEMs 2.1 D' Electron Beam a Imaging Process 2.2 Schlësselkomponente vun Compact Scanning- Elektron Microscope. s 3. Advantagen vum Compaktt Scanning Electron Microscopeen 3.1 Verbetert Portability an Spac benotzen

2026-06-19 méi gewuer ginn

Precisioung

Deusch- Inspectioun (mikroskopen) ass spesialist optical instrumenten, déi d'Deusch vun Eeffer Substraten mat Héich-Accurtheit. An industrien, wou deep-Eienschreift kritiekel ass automotive, aerospace, electronic, An verfäung vun d'Meeschmatz, d'Aftschéiez

2026-06-18 méi gewuer ginn

Compakt- Skant- Elektronskopper- Microscop, un am Modern Laboratorien

Compakte scanner electron Microskope vermellt äusge Opléisung an eng Freez späichert-Enduen, déi uns-Expant- Server- Analysieffeft operatioun an besweibt Performant fir rechten an industriële Applikatiounen

2026-06-17 méi gewuer ginn

méi gewuer ginn