Meja SEM untuk penyelidikan bahan

ModuleSci PE-100 adalah mikroskop elektron pengimbasan tablet padat yang direka untuk makmal penyelidikan bahan. Mempunyai sumber elektron filamen tungsten, prestasi pengimejan resolusi tinggi, dan peringkat 5 paksi bermotor, sistem ini membolehkan analisis sampel yang cepat dan tepat untuk pelbagai aplikasi sains bahan.

Mikroskop pemeriksaan semikonduktor

Mikroskop pemeriksaan semikonduktor DMS-1000 direka untuk aplikasi pemeriksaan semikonduktor dan wafer berketepatan tinggi. Mempunyai pengimejan digital 3D ultra-kedalaman dan pemerhatian resolusi tinggi, ia membolehkan analisis cip, wafer, dan komponen semikonduktor yang tepat dalam persekitaran perindustrian dan makmal.

Mikroskop Digital 3D Ultra-kedalaman-Zoom 20

Instrumen salutan Sputtering Ion Magnetron

Mikroskop Digital 3D Ultra-kedalaman

Mikroskop Digital 3D Ultra-kedalaman adalah platform pengimejan dan pengukuran digital bersepadu yang menyokong pengukuran pemerhatian dan ketepatan dari 2D hingga 3D. Ia direka untuk aplikasi profesional seperti penyelidikan, bahan, semikonduktor, elektronik 3C, metallography, dan sains hayat.

Argon ion penggilap 697 (Ilion II)