Tafelblad SEM voor materiaalonderzoek

De ModuleSci-PE-100 is een compacte elektronenmicroscoop op tafelblad die is ontworpen voor materiaalonderzoekslaboratoria. Met een elektronenbron van wolfraamfilament, beeldvormende prestaties met hoge resolutie en een gemotoriseerde 5-assige trap, maakt het systeem snelle en nauwkeurige monsteranalyse mogelijk voor een breed scala aan materiaalwetenschappelijke toepassingen.

Halfgeleider Inspectie Microscoop

De DMS-1000 Semiconductor Inspectie Microscoop is ontworpen voor zeer nauwkeurige halfgeleider-en waferinspectietoepassingen. Met ultradiepte digitale 3D-beeldvorming en observatie met hoge resolutie, maakt het een nauwkeurige analyze van chips, wafers en halfgeleidercomponenten in industriële en laboratoriumomgevingen mogelijk.

Ultra-diepte 3D Digitale Microscoop-Zoom 20

Magnetron Ion Sputtering Coating Instrument

Ultra-diepte 3D Digitale Microscoop

De ultradiepte 3D digitale microscoop is een geïntegreerd digitaal beeldvormend en meetplatform dat observatie-en precisiemeting van 2D tot 3D ondersteunt. Het is ontworpen voor professionele toepassingen zoals onderzoek, materialen, halfgeleiders, 3C-elektronica, metallografie en biowetenschappen.

Argon ion polijsten 697 (Ilion II)