Tabletta SEM for materialforskning.

ModuleSci PE-100 er et kompakt elektronmikroskop for skanning av bordplader, konstruert for materialforskningslaboratorier. Med en tungstenfilamentelektronkilde, høyoppløselig bildeprestasjon og en motorisert 5-akselie trinn, systemet muliggjør rask og nøyaktig analyse av prøver for en lang rekke bruksområder for materialvitenskap.

Mikroskop

DMS-1000 Semiconductor Inspection Microscope er konstruert for inspeksjon av halvleder og wafer med høypresisjon. Med ultradybde 3D digitalt bildeopplysning og høyoppløselig observasjon, gjør det mulig nøyaktig analyse av chips, wafers, og halvlederkomponenter i industri- og laboratoriemiljøer.

Ultradjupne 3D- digitalt mikroskop – forstørr 20%

Magnetron-ioninfraksjonsinstrumenter

Ultradybde 3D digitalt mikroskop

Den ultradybde 3D Digital Microscope er en integrert digital bilde- og målingsplattform som støtter observasjon og presisjonsmåling fra 2D til 3D D. Den er utformet for profesjonelle anvendelser som forskning, materialer, halvledere, 3C-elektronikk, metallografi og biovitenskap.

Argon-ion polering 697 (Ilion II)