Tabletop SEM pentru cercetarea materialelor

ModuleSci PE-100 este un microscop de scanare pe table compact conceput pentru laboratoarele de cercetare a materialelor. Cu o sursă electronică de filament de tungsten, performanță imagistică de înaltă rezoluție, și o etapă de 5-axie motorizată, sistemul permite o analiză rapidă și precisă a eșantioanelor pentru o gamă largă de aplicații științifice de materiale.

Inspecție semiconductor Microscop

Microscopul Semiconductor Inspection DMS-1000 este proiectat pentru aplicații de inspecție semiconductoare de înaltă precizie și plachete. Având o imagine digitală 3D extrem de adâncime şi observaţie de înaltă rezoluţie, permite analiza corectă a chipsurilor, plachetelor, și componente semiconductoare în medii industriale și de laborator.

Microscop digital extrem de adâncime 3D - Zoom 20

Instrument de acoperire ion de acoperire

Microscop digital extrem de adâncime 3D

Microscopul digital ultra-depth 3D este o platformă integrată de imagistică şi de măsurare digitală, care suportă observaţia şi măsurarea preciziei de la 2D la 3D D. Este conceput pentru aplicații profesionale precum cercetarea, materialele, semiconductorii, electronica 3C, metalografia și științele vieții.

Lustruirea ionului de argon 697 (Ilion II)