Настольный SEM для исследования материалов

ModuleSci PE-100-это компактный настольный сканирующий электронный микроскоп, предназначенный для лабораторий исследования материалов. Благодаря электронному источнику из вольфрамовой нити, высокому разрешению изображения и моторизованной 5-осевой ступени, система обеспечивает быстрый и точный анализ образцов для широкого спектра применений в области материаловедения.

Микроскоп осмотра полупроводника

Микроскоп для осмотра полупроводников DMS-1000 конструирован для высокоточных применений осмотра полупроводников и вафель. Благодаря сверхглубокому трехмерному цифровому изображению и наблюдению с высоким разрешением, он обеспечивает точный анализ микросхем, пластин и полупроводниковых компонентов в промышленных и лабораторных условиях.

Цифровой микроскоп Ultra-глубины 3D-Zoom 20

Магнетрон Ион распыления покрытия инструмент

Микроскоп цифров Ультра-глубины 3D

Сверхглубокий цифровой микроскоп 3D-это интегрированная платформа для цифровых изображений и измерений, которая поддерживает наблюдение и точные измерения от 2D до 3D. Он разработан для профессиональных приложений, таких как исследования, материалы, полупроводники, электроника 3C, металлография и науки о жизни.

Полировка ионами аргона 697 (Ilion II)