tl
contact@modulesci.com
+821065736888
+821068806683
821068806683

TUNGKOL SA ATIN

Ang ModuleSci ay itinatag noong 2017, na nag-aalok ng mga microscope ng electron na mataas na resolusyon batay sa mga electron gun ng emission electron at objective lens teknolohiya na binuo sa pakikipagtulungan ng Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS). Nag-aalok kami ng parehong pamantayang Tungsten filament SEMs na may resolusyon na halos 100,000x, at mataas na paggana ng FE-SEMs sa isang presyo na mas mababa kaysa sa iba pang mga marka sa merkado. Pagbuo sa aming karanasan sa parehong electron at light optics, mayroon din kaming komersyalize ng isang korrelatibong liwanag at microscope ng electron na nagpapahintulot sa mga gumagamit na obserbahan ang mga electron at optical na larawan. Ang pamamaraan na ito ay nagpapahintulot sa gumagamit na gamitin ang mga kakaibang katangian ng optikal at fluorescent microscopy kasama ang resolusyon ng nano-scale ng electron microscopy

tingnan pa

PRODUKTO

Tabletop SEM for Materials Research.

Ang ModuleSci PE-100 ay isang compact tabletop scanning electron microscope na disenyo para sa mga laboratoryo ng pananaliksik ng materyales. Naglalarawan ng isang tungsten filament electron source, high-resolution imaging performance, at isang motorized 5-axis stage, ang sistema ay nagbibigay ng mabilis at tumpak na pagsusuri ng sample para sa isang malawak na hanay ng mga aplikasyon ng agham ng materyales.

Semiconductor Inspection Microscopes

Ang DMS-1000 Semiconductor Inspection Microscope ay disenyo para sa high-precision semiconductor at wafer inspection applications. Naglalarawan ng ultra-depth 3D digital imaging at obserbasyon ng mataas na resolusyon, nagbibigay ito ng tumpak na pagsusuri ng mga chips, wafers, at mga bahagi ng semiconductor sa mga industriya at laboratoryo.

Ultra-depth 3D Digital Microscope - Zoom 20.

Magnetron Ion Sputtering Coating Instrumento

Ultra-depth 3D Digital Microscope

Ang Ultra-depth 3D Digital Microscope ay isang integrated digital imaging and sukat platform na sumusuporta sa pagsusuri at katumpakan mula 2D hanggang 3. D. Ito ay disenyo para sa mga propesyonal na aplikasyon tulad ng pananaliksik, materyales, semiconductors, 3C electronics, metallography, at sciences ng buhay.

Argon ion polishing 697 (Ilion II)

AGP3000 Pirani vacuum gauge

AMC2100 Mass Flow Controller

Serye ng PV-100

tingnan pa

BALITA

Notice of New Share Issuances

2026-06-23 tingnan pa

ModuleSci Participates sa SPP 2026, Showcasing SEM Solutions for Materials Science and Microanalysis.

2026-06-23 tingnan pa

Pagpapakita sa World of Nanoscale Characterization Equipment: Essential Tools for Precision Analysis.

Sa palaging nakakasakit na tanawin ng agham at teknolohiya, ang kakayahang mag-aral ng mga materyales sa nanoscale ay naging lalong mahalaga. Ang kagamitan sa karakteristika ng Nanoscale ay may mahalagang papel sa domain na ito, pagbibigay ng mga mananaliksik at propesyonal sa industriya ng mga paraan upang tuklasin at maunawaan ang mga materyales sa laki na karaniwang mula 1 hanggang 100 nanometers. Ang antas ng tiyak na ito ay vit

2026-06-22 tingnan pa

Pagpapakita ng Kahalagahan ng Microstructure Inspection Equipment sa Modern Agena

Pagpapakita ng Importance of Microstructure Inspection Equipment sa Modern Science Table of Contents 1. Introduction to Microstructure Inspection E 2 Pag-unawa sa Microstructures: Ano ang mga ito at Kung Bakit Ito ay 3. Mga uri ng Microstructure Inspection Equipment 3.1 Optical Microscopes 3.2 Electron Microscopes 3.3 S. Canning Probe Mic

2026-06-21 tingnan pa

Paglalarawan sa Power of Tabletop Scanning Electron Microscopes

Ang mga electron scanning electron microscopes (TSEMs) ay kumakatawan sa isang pambihirang pagsulong sa teknolohiya ng microscopy, nag-aalok ng isang compact at friendly na solusyon para sa mataas na resolusyon. Hindi tulad ng tradisyonal na scanning electron microscopes, na maaaring malaki at kumplikado, Ang mga TSEM ay disenyo upang maging mas accessible at gumana sa mas maliit na sukat, na ginagawang ideal para sa mga institusyong pang-edukasyon, maliit na laboratos

2026-06-20 tingnan pa

Unlocking the Future: Compact Scanning Electron Microscopes

Ang pag-unlock ng hinaharap: Compact Scanning Electron Microscopes Explained Table of Contents 1. Introduction to Compact Scanning Electron Microscopes sa Technology Behind CSEMs 2.1 The Electron Beam and Imaging Process 2.2 Key Components of Compact Scanning Electron Microscopes 3. Advantages of Using Compact Scanning Electron Microscopes 3.1 Enhanced Portability and Spac

2026-06-19 tingnan pa

Unlocking Precision: The Essential Guide to Coating Thickness Inspection Microscopes

Ang mga mikroskopyo ng makapal na inspeksyon ay espesyal na mga instrumento ng optikal na disenyo upang sukatin ang makapal ng mga coatings na inilalapat sa iba't ibang paraan mga substrates na may mataas na katumpakan. Sa mga industriya kung saan ang mga katangian sa ibabaw ay kritikal-tulad ng automotive, aerospace, electronics, at ang paggawa-ang kakayahan na sukatin ang kapal ng pag-coating ay mahalaga para sa pagkontrol ng kalidad at pagsunod sa pamantayan ng regulal

2026-06-18 tingnan pa

Compact Scanning Electron Microscope Advancing High-Resolution Material Analysis sa Modern Laboratories.

Compact scanning electron microscope ay nagbibigay ng imaging ng mataas na resolusyon sa disenyo ng pag-save ng espasyo na nagbibigay-daan ng eksaktong operasyon ng epektibo sa ibabaw at maaasahan pagganap para sa mga aplikasyon ng pananaliksik at industria

2026-06-17 tingnan pa

tingnan pa